|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of charge trapping in SiO2/Al2O3 dielectric stacks by pulsed C–V technique |
| Auteur: |
Puzzilli, Giuseppina Govoreanu, Bogdan Irrera, Fernanda Rosmeulen, Maarten Houdt, Jan Van |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |