|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Channel hot carrier effects in n-MOSFET devices of advanced submicron CMOS technologies |
| Auteur: |
La Rosa, Giuseppe Rauch III, Stewart E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |