|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 178 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Time decay of stress induced leakage current in thin gate oxides by low-field electron injection |
| Auteur: |
Cester, A Paccagnella, A Ghidini, G |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 4-5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 178 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |