|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 175 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
The relentless march of the MOSFET gate oxide thickness to zero |
| Auteur: |
Timp, G Bude, J Baumann, F Bourdelle, K.K Boone, T Garno, J Ghetti, A Green, M Gossmann, H Kim, Y Kleiman, R Kornblit, A Klemens, F Moccio, S Muller, D Rosamilia, J Silverman, P Sorsch, T Timp, W Tennant, D Tung, R Weir, B |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 4-5 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 175 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |