|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 145 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Relation between residual stress and electrical properties of polysilicon/oxide/silicon structures |
| Auteur: |
Jalabert, L Temple-Boyer, P Olivié, F Sarrabayrouse, G Cristiano, F Colombeau, B |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 4-5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 145 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |