|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
A software for optical characterization of thin films for microelectronic applications |
| Auteur: |
Leinfellner, N Ferré-Borrull, J Bosch, S |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 4-5 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |