|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 108 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of the hot carrier damage profile in LDMOS devices stressed at high drain voltage |
| Auteur: |
Corso, D. Aurite, S. Sciacca, E. Naso, D. Lombardo, S. Santangelo, A. Nicotra, M.C. Cascino, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 108 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |