|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 897 van 3981 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparisons of block diagram and Markov method system reliability and mean time to failure results for constant and non-constant unit failure rates |
| Auteur: |
Dhillon, B.S. Yang, N. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 37 (1997) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 897 van 3981 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |