|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 468 van 3981 gevonden artikelen
| Titel: |
A relation model of gate oxide yield and reliability |
| Auteur: |
Kim, Kyungmee O. Kuo, Way Luo, Wen |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 3 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 468 van 3981 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |