|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 298 van 3981 gevonden artikelen
| Titel: |
A new algorithm for transforming exponential current ramp breakdown distributions into constant current TDDB space, and the implications for gate oxide Q BD measurement methods |
| Auteur: |
Dumin, N.A |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 39 (1999) nr. 3 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 298 van 3981 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |