|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 892 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of ultra-shallow n+p junctions formed by AsH3 plasma immersion implantation |
| Auteur: |
Yang, B.L Wong, H Han, P.G Poon, M.C |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 892 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |