|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 890 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of MS and MIS structures on AlGaN/AlN/GaN heterostructures |
| Auteur: |
Arslan, Engin Bütün, Serkan Şafak, Yasemin Uslu, Habibe Taşçıoğlu, İlke Altındal, Şemsettin Özbay, Ekmel |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 890 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |