|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 851 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of drain voltage on channel temperature and reliability of pseudomorphic InP-based HEMTs |
| Auteur: |
Dammann, M. Chertouk, M. Jantz, W. Köhler, K. Marsetz, W. Schmidt, K.H. Weimann, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 851 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |