|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 683 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Critical factors influencing the voltage robustness of AlGaN/GaN HEMTs |
| Auteur: |
Cäsar, M. Dammann, M. Polyakov, V. Waltereit, P. Quay, R. Mikulla, M. Ambacher, O. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 683 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |