|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 581 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of AlGaN/GaN HEMTs robustness versus buffer design variations by applying Electroluminescence and electrical measurements |
| Auteur: |
Ivo, P. Glowacki, A. Bahat-Treidel, E. Lossy, R. Würfl, J. Boit, C. Tränkle, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 581 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |