|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 468 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation |
| Auteur: |
Monnereau, N. Caignet, F. Trémouilles, D. Nolhier, N. Bafleur, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 468 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |