|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 442 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Bias dependence of TID radiation responses of 0.13μm partially depleted SOI NMOSFETs |
| Auteur: |
Ning, Bingxu Bi, Dawei Huang, Huixiang Zhang, Zhengxuan Hu, Zhiyuan Chen, Ming Zou, Shichang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 442 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |