|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 318 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
A review of the growth and structure of thin films of germanium and silicon |
| Auteur: |
Newman, R.C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 3 (1964) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1964 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 318 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |