|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparison of early stage hot carrier degradation behaviour in 5 and 3 V sub-micron low doped drain metal oxide semiconductor field effect transistors |
| Auteur: |
De Souza, M.M. Wang, J. Manhas, S. Sankara Narayanan, E.M. Oates, A.S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |