|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 154 van 2875 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Fowler–Nordheim injection in NO nitrided gate oxide grown on n-type 4H–SiC |
| Auteur: |
Li, Hui-Feng Dimitrijev, Sima Sweatman, Denis Harrison, H.Barry |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 154 van 2875 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |