|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 133 gevonden artikelen
| Titel: |
Examination of degradation mechanism due to negative bias temperature stress from a perspective of hole energy for accurate lifetime prediction |
| Auteur: |
Watanabe, Kazufumi Teramoto, Akinobu Kuroda, Rihito Sugawa, Shigetoshi Ohmi, Tadahiro |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 2-3 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 133 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |