|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 124 van 133 gevonden artikelen
| Titel: |
4922134 Testable redundancy decoder of an integrated semiconductor memory |
| Auteur: |
Hoffmann, Kurt Kowarik, Oskar Kraus, Rainer Lustig, Bernhard Oberle, Hans-Dieter |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 31 (1991) nr. 2-3 pagina's nvt p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 124 van 133 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |