|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation study on the lifetime of electrochemical capacitors using the accelerated degradation test under temperature and voltage stresses |
| Auteur: |
Kim, Yu Tack Kim, Kwang-Bum Hyun, Yoo Eo Kim, Ick-Jun Yang, Sunhye |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 12PB pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |