|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 82 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of 1/f noise measurements to the characterization of near-interface oxide traps in ULSI n-MOSFETs |
| Auteur: |
Villa, S. De Geronimo, G. Pacelli, A. Lacaita, A.L. Longoni, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 82 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |