|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 744 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
The effects of duty cycle and voltage swing of gate pulse on the AC-stress-induced degradation of nMOSFETs with N2O gate oxides |
| Auteur: |
Zeng, X Lai, P.T Xu, J.P |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 744 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |