|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 742 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of small-signal AC voltages on C–V characterization and parameter extraction of SiO2 thin films |
| Auteur: |
Zhang, Hongguo Gurang, Pant Sigh, Nihdi Manuel, Quvdo Wallace, Robert Gnade, Bruce Stokes, Kevin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 742 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |