|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 665 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Robustness of the exponential sequential probability ratio test (SPRT) when Weibull distributed failures are transformed using a “known” shape parameter |
| Auteur: |
Hauck, Daryl J. Keats, J.Bert |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 37 (1997) nr. 12 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 665 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |