|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 628 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability aspects of gate oxide under ESD pulse stress |
| Auteur: |
Ille, Adrien Stadler, Wolfgang Pompl, Thomas Gossner, Harald Brodbeck, Tilo Esmark, Kai Riess, Philipp Alvarez, David Chatty, Kiran Gauthier, Robert Bravaix, Alain |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 49 (2009) nr. 12 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 628 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |