|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 598 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Prediction of interfacial delamination in stacked IC structures using combined experimental and simulation methods |
| Auteur: |
van Driel, W.D. Liu, C.J. Zhang, G.Q. Janssen, J.H.J. van Silfhout, R.B.R. van Gils, M.A.J. Ernst, L.J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 12 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 598 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |