|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 596 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Prediction of crack growth in IC passivation layers |
| Auteur: |
He, Y.T. van Gils, M.A.J. van Driel, W.D. Zhang, G.Q. van Silfhout, R.B.R. Ernst, L.J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 596 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |