|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 589 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Power-law voltage acceleration: A key element for ultra-thin gate oxide reliability |
| Auteur: |
Wu, Ernest Y. Suñé, Jordi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 12 pagina's 26 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 589 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |