|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 547 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
On the optimum thickness to test dielectric reliability, in an integrated technology of power devices |
| Auteur: |
Oussalah, Slimane Nebel, Fabien Jérisian, Robert |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 547 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |