|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 536 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Off-state drain breakdown mechanisms of VDMOS with anti-JFET implantation |
| Auteur: |
Tam, Wing-Shan Siu, Sik-Lam Yang, Bing-Liang Kok, Chi-Wah Wong, Hei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 536 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |