|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 455 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Low and high temperature device reliability investigations of buried p-channel MOSFETs of a 0.17 μm technology |
| Auteur: |
Ambatiello, Alexander Deichler, Josef |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 455 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |