|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 424 van 827 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of high performance Edge Lifted Capacitors reliability for GaAs and GaN MMIC technology |
| Auteur: |
Weng, Ming-Hung Chen, Chao-Hung Lin, Che-Kai Huang, Shih-Hui Du, Jhih-Han Peng, Sheng-Wen Wohlmuth, Walter Chou, Frank Yung-Shi Hua, Chang-Hwang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 424 van 827 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |