|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 249 van 276 gevonden artikelen
| Titel: |
The excess noise in integrated circuit interconnects before and after electromigration damage |
| Auteur: |
Guo, Jianping Jones, B.K Trefan, G |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 39 (1999) nr. 11 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 249 van 276 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |