|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 79 van 123 gevonden artikelen
| Titel: |
On the applicability of MIL-Spec-based helium fine leak test to packages with sub-micro liter cavity volumes |
| Auteur: |
Goswami, Arindam Han, Bongtae |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 11-12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 79 van 123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |