|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 69 van 123 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of charge trapping/de-trapping induced operation lifetime degradation in triple SuperFlash® memory cell |
| Auteur: |
Cao, Zigui Zhang, Bo Zhang, Xiong Lee, Elton Kong, Weiran |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 11-12 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 69 van 123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |