|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 80 van 145 gevonden artikelen
| Titel: |
Mixed-Weibull parameter estimation for burn-in data using the Bayesian approach |
| Auteur: |
Kececioglu, Dimitri Sun, Feng-Bin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 34 (1994) nr. 10 pagina's 23 p. |
| Jaar: |
1994 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 80 van 145 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |