Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 73 van 145 gevonden artikelen
 
 
  Investigation of morphology and fractal behaviour on compound semiconductor surface after electrochemical layer removal
 
 
Titel: Investigation of morphology and fractal behaviour on compound semiconductor surface after electrochemical layer removal
Auteur: Nemcsics, Ákos
Mojzes, Imre
Dobos, László
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 39 (1999) nr. 10 pagina's 5 p.
Jaar: 1999
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 73 van 145 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland