|
Characterisation of degradation mechanisms in resonant tunnelling diodes |
|
|
|
Titel: |
Characterisation of degradation mechanisms in resonant tunnelling diodes |
Auteur: |
Vogt, A. Brandt, M. Sigurdardottir, A. Schüssler, M. Peña, D. Simon, A. Hartnagel, H.L. Rodewald, M. Roesner, M. Fuess, H. Goswami, S.N.N. Lal, K. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 37 (1997) nr. 10-11 pagina's 4 p. |
Jaar: |
1997 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|