|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 560 van 3138 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of solder interfaces using laser flash metrology |
| Auteur: |
Chiu, Chia-Pin Maveety, James G Tran, Quan A |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 42 (2002) nr. 1 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 560 van 3138 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |