|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 223 van 253 gevonden artikelen
| Titel: |
Testing whether one distribution is more IFR than another |
| Auteur: |
Wei, Xianhua |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 32 (1992) nr. 1-2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 223 van 253 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |