|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Failure mechanisms in thermal inkjet printhead analyzed by experiments and numerical simulation |
| Auteur: |
Lim, Ji-hyuk Kuk, Keon Shin, Seung-joo Baek, Seog-soon Kim, Young-jae Shin, Jong-woo Oh, Yong-soo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |