|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Elimination of stress induced dislocation in deep Poly Sinker LDMOS technology |
| Auteur: |
Xu, Xiangming Huang, Jingfeng Yu, Han Ma, Biao Wang, Peng-Fei Zhang, David Wei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |