|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation behavior by DC-accelerated and pulse-current stress in Co/Cr/Y/Al/Ni co-doped ZnO–PrO1.83-based varistors |
| Auteur: |
Nahm, Choon-W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 3-4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |