Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 31 gevonden artikelen
 
 
  Comparative evaluation of the short-circuit withstand capability of 1.2kV silicon carbide (SiC) power transistors in real life applications
 
 
Titel: Comparative evaluation of the short-circuit withstand capability of 1.2kV silicon carbide (SiC) power transistors in real life applications
Auteur: Kampitsis, Georgios
Papathanassiou, Stavros
Manias, Stefanos
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 55 (2015) nr. 12PB pagina's 7 p.
Jaar: 2015
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 31 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland