|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
In depth static and low-frequency noise characterization of n-channel FinFETs on SOI substrates at cryogenic temperature |
| Auteur: |
Achour, H. Cretu, B. Routoure, J.-M. Carin, R. Talmat, R. Benfdila, A. Simoen, E. Claeys, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 98 (2014) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |