|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of ultra-thin buried oxides for multi-VT FDSOI technology |
| Auteur: |
Besnard, G. Garros, X. Nguyen, P. Andrieu, F. Reynaud, P. Van Den Daele, W. Bourdelle, K.K. Schwarzenbach, W. Toffoli, A. Kies, R. Delprat, D. Reimbold, G. Cristoloveanu, S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 97 (2014) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |