|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Low-frequency noise assessment in advanced UTBOX SOI nMOSFETs with different gate dielectrics |
| Auteur: |
dos Santos, S.D. Cretu, B. Strobel, V. Routoure, J.-M. Carin, R. Martino, J.A. Aoulaiche, M. Jurczak, M. Simoen, E. Claeys, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 97 (2014) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |